1. 反射率測試儀

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      BS-INT-2000反射率測試儀

       

      BOSON的BS-INT-2000型反射率測試儀,采用集成式的微型光譜儀,并集成積分球光源,可對平面樣品(如硅晶片,鍍膜表面,油漆,紙張,布料等)進行反射率測試。

      BS-INT-2000型反射率測試儀內部采用了集成式的微型光譜儀,沒有固定式光學元件,穩固可靠,光學精度不受移動影響,體積小巧,可以在各種環境中使用。

      測試儀采用了高穩定性的鹵鎢燈光源,穩定的電源輸出保證了光譜的穩定性,有效的提高了測試精度。使用積分球測量方式,提供均勻的照射光斑,進一步提高了測試的精確性,可以適用于多種類型的樣品。反射率測試儀整體采用8度角的設計,符合CIE的測試標準。

      特點:

      1. 測試波長范圍350-1000nm。
      2. 采用積分球鹵鎢燈光源,可以得到更加均勻的輸出光。
      3. 反射率范圍0-99%。
      4. 系統為集成化模塊,使用中只需將設備連接電腦即可使用。
      5. 操作簡便
      6. 易于攜帶
      7. 儀器終生保修。


      技術參數

      探測器范圍

      200-1100 nm

      可用范圍:

      350-1000 nm

      像素:

      3648 pixels

      像素尺寸:

      8 μm x 200 μm

      信噪比:

      250:1

      積分時間:

      10ms-10s

      像素分辨率:

      ~ 0.18 nm

      光學分辨率:

      ~ 1.5 nm (半峰寬)

      積分球直徑:

      3英寸

      樣品孔直徑:

      12.2 mm

      積分球涂層反射率:

      >99%

      光源光譜范圍:

      350-2500nm

      光源壽命:

      5000小時

      可測量參數:

      波長反射率,總反射率,反射顏色xy, XYZ, Lab 等

      計算機操作系統:

      USB 接口:Windows 98/Me/2000/XP, Mac OS X 和 Linux

      計算機接口

      USB 2.0 @ 480 Mbps (兼容USB1.1)

      外形尺寸:

      11cm(長) × 7(寬) × 19cm(高)

       


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